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上海精科物理光學廠X-4B顯微熔點儀
| 型號： | X-4B |
測定物質的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
上海精科物理光學廠X-4B顯微熔點儀產(chǎn)品概述：
品牌：上海儀電物理光學儀器有限公司 （原上海精科廠）
名稱：顯微熔點儀
型號：X-4B
產(chǎn)品描述：
測定物質的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
技術參數(shù)：
熔點測量范圍：室溫至320℃
測量重復性：±1℃ （在＜200℃ 時）/±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時）
溫度顯示小值：0.1℃
熔點觀察方式： 雙目顯微鏡
光學放大倍數(shù) 40-100X
同系列產(chǎn)品：
名稱 | 型號 | 主要技術參數(shù) |
熔點儀 | WRS-3 | 范圍：室溫~320℃，溫度數(shù)顯小示值0.1℃，示值誤差：在環(huán)境溫度為23℃±5℃時，應符合下列要求：（1）在＜200℃范圍內為±0.5℃時（2）在200-320℃范圍為±0.8℃時，示值重復性：升溫速率為1.0℃/min，樣品的不確定度為0.3℃，線性升溫速率誤差不大于名義值的10% |
熔點儀(程控、數(shù)顯) | WRR | 范圍：40~280℃ 重復性：0.3℃ 小數(shù)單位:0.1℃（可同時測試3個樣品） |
數(shù)字熔點儀 (微機、液晶數(shù)顯) | WRS-1B | 范圍:室溫~300℃ 小讀數(shù):0.1℃ 接口輸出RS232、通過PC顯示熔化曲線 |
數(shù)字熔點儀 (微機、點陣液晶) | WRS-2 | 同上(直接顯示熔化曲線及測量結果) |
WRS-2A | 同上(可同時測三個樣品) | |
微機熔點儀 | WRS-2C | 范圍：室溫~300℃，溫度數(shù)顯小值：0.1℃，線性升溫速度率:0.1℃/min之間任意連續(xù)， 測定熔點的示值誤差：≤200℃;±0.4℃;＞200℃;±0.7℃，重復性：0.3℃ |
微機熔點儀 | WRS-1C | 范圍：室溫-400℃，“起始溫度”設定時間：50-400℃，不大于5min；設定時間：400-50℃，不大于7min；溫度數(shù)顯小示值0.1℃；線性升溫速率：0.1-20.0℃/min之間任意連續(xù)可選；重復性0.3 |
全套顯微熱分析儀 (程控、數(shù)顯) (顯微熔點儀) | WRX-1S | 范圍：室溫~300℃ 重復性：0.4℃；小讀數(shù)單位:0.1℃；(附XSP-8CA三目生物顯微鏡，CCD)（顯示部分選購），總放大倍數(shù)40-1600X，調焦25mm，微動格值0.002mm；移動范圍：橫向50mm 縱向70mm |
顯微熔點儀(數(shù)顯) | X-4 | 范圍：室溫~320℃，小讀數(shù)單位:1℃， 重復性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
顯微熔點儀(數(shù)顯) | X-4A | 范圍：室溫~320℃，小讀數(shù)單位:0.1℃， 重復性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
顯微熔點儀(數(shù)顯) | X-4B | 范圍：室溫~320℃，小讀數(shù)單位:0.1℃， 重復性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) 雙目體式顯微鏡，光學放大倍數(shù)：40倍-100倍 |
滴點軟化點測定儀 (程控、液晶數(shù)顯) | WQD-1A | 范圍:室溫~300℃ 小讀數(shù)單位:0.1℃ |
